- 軟件大小:60KB
- 軟件語(yǔ)言:中文
- 軟件類(lèi)型:漢化軟件
- 軟件類(lèi)別:免費(fèi)軟件 / 硬盤(pán)工具
- 更新時(shí)間:2017-08-24 18:59
- 運(yùn)行環(huán)境:WinAll, WinXP, Win7, Win8
- 軟件等級(jí):
- 軟件廠商:
- 官方網(wǎng)站:http://m.portlandswalk.com/
346KB/中文/10.0
15.00M/中文/0.0
2.70M/中文/5.0
4.99M/中文/2.0
12.69M/中文/0.0
fujitsu diagnostic中文版是一款免費(fèi)的硬盤(pán)壞道檢測(cè)軟件!這個(gè)程序可以用來(lái)修復(fù)計(jì)算機(jī)硬盤(pán)壞道,操作簡(jiǎn)單,適合小白們使用!本站提供的安裝程序支持32位和64位系統(tǒng)。歡迎在綠色資源網(wǎng)下載!
fujitsu diagnostic是款功能非常強(qiáng)大的硬盤(pán)壞道檢測(cè)工具;它是由非常知名的富士通西門(mén)子公司進(jìn)行研發(fā)推出的,大家這進(jìn)行電腦的使用時(shí),硬盤(pán)雖然不會(huì)輕易的損壞,可是壞了也不清楚,如果您有這方面的擔(dān)心,就可以將這河?xùn)|軟件園將這款Fujitsu Diagnostic(IDE)硬盤(pán)壞道檢測(cè)工具下載來(lái)使用試試阿布;它可以快速的檢測(cè)出您硬盤(pán)是否有壞道,而且還對(duì)S.M.A.R.T.數(shù)據(jù)的檢測(cè)進(jìn)行支持等等功能!需要的用戶快來(lái)綠色資源網(wǎng)下載吧!
1.硬盤(pán)壞道分“邏輯壞道”和“物理壞道”兩種。“邏輯壞道”一般可用軟件修復(fù);“物理壞道”表示硬盤(pán)磁道產(chǎn)生了物理?yè)p傷。
2.硬盤(pán)壞道可說(shuō)是硬盤(pán)致命性故障。出現(xiàn)硬盤(pán)壞道以后硬盤(pán)往往也就代表著硬盤(pán)生命結(jié)束,硬盤(pán)在出現(xiàn)壞道以后不但是某些壞扇區(qū)不可用,還會(huì)直接殃及到其它可用磁盤(pán)扇區(qū),這樣硬盤(pán)生命也不會(huì)太長(zhǎng),一般利用不了多長(zhǎng)時(shí)間后便無(wú)法再繼續(xù)使用,造成整塊硬盤(pán)損壞。硬盤(pán)出現(xiàn)壞道,意味著用來(lái)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)不安全,硬盤(pán)壞了可以再買(mǎi),但其中的數(shù)據(jù)丟了上哪兒買(mǎi)呢?所以,我們須認(rèn)識(shí)硬盤(pán)壞道。
3.硬盤(pán)用久了就會(huì)出現(xiàn)各種各樣的問(wèn)題,而硬盤(pán)“壞道”是其中最常見(jiàn)的問(wèn)題,是硬盤(pán)致命性故障,出現(xiàn)硬盤(pán)壞道以后,也就代表著硬盤(pán)生命結(jié)束。硬盤(pán)壞道主要是因?yàn)橛脖P(pán)本身的質(zhì)量以及老化,其次就是平時(shí)在使用上沒(méi)有好好愛(ài)護(hù),比如內(nèi)存太少以致應(yīng)用軟件對(duì)硬盤(pán)頻繁訪問(wèn)、對(duì)硬盤(pán)過(guò)分頻繁地整理碎片、不適當(dāng)?shù)某l、電源質(zhì)量不好、溫度過(guò)高、防塵不良、震動(dòng)等,諸類(lèi)問(wèn)題都可能引起硬盤(pán)壞道。硬盤(pán)壞道分“邏輯壞道”和“物理壞道”兩種,“邏輯壞道”一般可用軟件修復(fù);“物理壞道”表示硬盤(pán)磁道產(chǎn)生了物理?yè)p傷。
1.按下P鍵進(jìn)行硬盤(pán)的選擇,默認(rèn)是第二主盤(pán)。
2.最后一項(xiàng)試掃描完畢的操作,比如停轉(zhuǎn)等。
3.通診斷工具顯示每個(gè)驅(qū)動(dòng)器的型號(hào)名稱(chēng),序列號(hào),固件,以及每個(gè)測(cè)試的結(jié)果。
4.S和windows版本的富士通診斷工具都可以運(yùn)行兩次測(cè)試:
5.按F4進(jìn)入操作界面。第一第二項(xiàng)分別是掃描的啟示和結(jié)束位置,用空格鍵進(jìn)行操作用回車(chē)確認(rèn)。
6.測(cè)試:綜合測(cè)試也進(jìn)行隨機(jī)讀取測(cè)試,但也包括表面測(cè)試。此測(cè)試所需時(shí)間取決于硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的大小。
7.測(cè)試:這個(gè)快速測(cè)試測(cè)試需要大約三分鐘,并在硬盤(pán)上進(jìn)行隨機(jī)讀取測(cè)試。
8.第四項(xiàng)是修復(fù)方式。默認(rèn)不修復(fù)。右按一下,是進(jìn)行defect scope,就是不穩(wěn)定介質(zhì)掃描。掃描后保存位txt文件,可以用1(數(shù)字)打開(kāi)保存的位置,好像在defectlog文件夾里。然后按F3打開(kāi)最后一個(gè)txt文檔,即可察看壞道情況。之后用第三項(xiàng)的方法導(dǎo)入到壞道表即可。
9.第三項(xiàng)是修復(fù)的讀寫(xiě)方式。用左右鍵可以選擇。左按兩次,是進(jìn)行擦除操作。左按一次,是將文件中的壞道導(dǎo)入到壞道列表中。
請(qǐng)描述您所遇到的錯(cuò)誤,我們將盡快予以修正,謝謝!
*必填項(xiàng),請(qǐng)輸入內(nèi)容